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    318-226DCMITUTOYO三丰高精度数显测高仪 Mitutoyo日本三丰高精度数显测高仪$n适用于易受测力影响的工件的厚度·高度的测量高精度测量$n低测力可达0.01N ,适合测量易变形工件和高精度零件的厚度和高度$n对于用0.01N测量时结果不稳定的工件，推荐使用0.15N、1N型（选配）
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    更新日期

    2024-11-26
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GF-603AWP最小称重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可读性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止损坏重量传感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小稳重120mg精密天平 GF-324A双向 USB 接口日本AND高级精密分析天平

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