产品中心/ PRODUCTS CENTER
标题：Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
产品概述
| 品牌 | Asahi Spectra/日本 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 是否可提供报关单 | 是 | 货期 | 备库销售，现货 |
| 可售卖地 | 全国 |
什么是OMD-1000？
这是一种光谱膜厚监测监测器，用于监测单色光气相沉积过程中基板光强度的变化。 此外，还用于本公司的气相沉积设备，作为气相沉积部件制造商，在充满专业知识的膜厚监测设备中完成。
小叶传统型号具有滤光片式波长选择，但新产品采用了我们久经考验的光谱仪，现在可以选择任何波长。
薄膜厚度变化的信号从电压输出变为与个人计算机兼容的数字输出，控制机构由个人计算机的命令控制，而不是手动操作。 此外，通过I/F直接控制与个人电脑相连的膜厚仪本体，没有像其他制造商那样的控制器，是一个非常紧凑的系统。
集成光谱仪的紧凑型设计
提高抗噪性，实现可靠的膜厚监测（静电放电试验耐压±5kV）
可通过 PC 命令自动控制
控制器内置于接收器本体中，实现高性价比。
它连接到气相沉积设备上，并监控膜厚。
它可以如右图所示安装。
反射式监测
透射式监控
（泛光灯弯曲）
透射式监控
（直接连接到泛光灯）
受光器
泛光灯
电源箱
散装法兰
* 包含在反光镜盒中
反光镜盒
透射镜盒
| 型式 | OMD-1000型 |
| 光谱仪类型 | 车尔尼-特纳单色 |
| 波长范围 | 保修范围：380~900nm工作 范围：350~1100nm |
| 波长分辨率 | 狭缝 0.5mm：4.2nm [546nm] 狭缝 1.0mm：8.3nm [546nm] |
| 波长精度 | ±1.0纳米 |
| 最小波长馈电 | 0.1纳米 |
| 外部控制 | RS232C接口 |
| 外部输出端子 | DC0~2V （满量程） |
| 采样间隔 | 100ms以上 |
| 静电放电试验耐压 | ±5 kV（实际 8 kV） |
| 光源 | 12V100W卤素灯 |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 输入电压 | AC100V 50/60赫兹 |
| 允许输入电压 | 交流85~132V |
| 视在功率 | 340VA以下 |
| 使用环境 | 温度 10～35℃ 湿度 20～80％ |
关于我们
公司简介荣誉资质资料下载产品展示
GF-603AWP最小称重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可读性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止损坏重量传感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小稳重120mg精密天平 GF-324A双向 USB 接口日本AND高级精密分析天平服务与支持
技术文章新闻中心联系我们
联系方式在线留言版权所有 © 2024 北崎国际贸易（北京）有限公司 备案号：京ICP备17005343号-5
技术支持：化工仪器网 管理登陆 sitemap.xml
电话：TEL
地址：ADDRESS
扫码关注我们
产品分类
我的位置：
产品型号：
上一篇：
在线咨询
返回顶部