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Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪

描述:Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
这是一种光谱膜厚监测监测器,用于监测单色光气相沉积过程中基板光强度的变化。 此外,还用于本公司的气相沉积设备,作为气相沉积部件制造商,在充满专业知识的膜厚监测设备中完成。

  • 产品型号:OMD-1000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-12-20
  • 访问量:143
产品详情/ PRODUCT DETAIL

标题:Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪

产品概述

品牌Asahi Spectra/日本产地类别进口
是否可提供报关单货期备库销售,现货
可售卖地全国

Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪 OMD-1000

光学镀膜测厚仪 OMD-1000

什么是OMD-1000?

这是一种光谱膜厚监测监测器,用于监测单色光气相沉积过程中基板光强度的变化。 此外,还用于本公司的气相沉积设备,作为气相沉积部件制造商,在充满专业知识的膜厚监测设备中完成。

小叶

总结

增强的波长范围

传统型号具有滤光片式波长选择,但新产品采用了我们久经考验的光谱仪,现在可以选择任何波长。
薄膜厚度变化的信号从电压输出变为与个人计算机兼容的数字输出,控制机构由个人计算机的命令控制,而不是手动操作。 此外,通过I/F直接控制与个人电脑相连的膜厚仪本体,没有像其他制造商那样的控制器,是一个非常紧凑的系统。

长处

  • 集成光谱仪的紧凑型设计

  • 提高抗噪性,实现可靠的膜厚监测(静电放电试验耐压±5kV)

  • 可通过 PC 命令自动控制

  • 控制器内置于接收器本体中,实现高性价比。

主机配置和接线

Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪

主机配置和接线

产品详情

它连接到气相沉积设备上,并监控膜厚。
它可以如右图所示安装。

产品描述反射式监测

反射式监测

产品描述透射式监控(泛光灯弯曲)

透射式监控
(泛光灯弯曲)

产品描述透射式监控(直接连接到泛光灯)

透射式监控
(直接连接到泛光灯)

产品组成

受光器

产品描述接收器

泛光灯

产品描述泛光灯

电源箱

产品描述 电源箱

散装法兰
* 包含在反光镜盒中

产品描述散装法兰


反光镜盒

产品描述:反光镜盒


透射镜盒

产品描述透射镜盒

产品规格

型式OMD-1000型
光谱仪类型车尔尼-特纳单色
波长范围保修范围:380~900nm工作
范围:350~1100nm
波长分辨率狭缝 0.5mm:4.2nm [546nm] 狭缝 1.0mm:8.3nm [546nm]
波长精度±1.0纳米
最小波长馈电0.1纳米
外部控制RS232C接口
外部输出端子DC0~2V (满量程)
采样间隔100ms以上
静电放电试验耐压±5 kV(实际 8 kV)
光源12V100W卤素灯
光量安定性±0.1%/h 以下
输入电压AC100V 50/60赫兹
允许输入电压交流85~132V
视在功率340VA以下
使用环境温度 10~35℃
湿度 20~80%


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