OMD-1000Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
这是一种光谱膜厚监测监测器,用于监测单色光气相沉积过程中基板光强度的变化。 此外,还用于本公司的气相沉积设备,作为气相沉积部件制造商,在充满专业知识的膜厚监测设备中完成。
- 01
更新日期
2025-12-28 - 02
浏览量
894

相关文章
产品中心/ PRODUCTS CENTER
更新日期
2025-12-28浏览量
894
更新日期
2025-12-28浏览量
829
更新日期
2025-12-28浏览量
807
更新日期
2025-12-28浏览量
970关于我们
公司简介荣誉资质资料下载产品展示
CR-3000EX-L太阳科学SUN-KAGAKU蠕变及弯曲测试流变仪 CR-3000EX-L太阳科学SUN-KAGAKU断裂与破碎强度流变仪 CR-3000EX-L太阳科学SUN-KAGAKU疲劳测试流变仪 CR-3000EX-L太阳科学SUN-KAGAKU纹理测试流变仪 CR-3000EX-L太阳科学SUN-KAGAKU面包压缩测试流变仪服务与支持
技术文章新闻中心联系我们
联系方式在线留言版权所有 © 2026 北崎国际贸易(北京)有限公司 备案号:京ICP备17005343号-5
技术支持:化工仪器网 管理登陆 sitemap.xml