OMD-1000Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
Asahi-spectra朝日分光光学镀膜测厚仪
这是一种光谱膜厚监测监测器,用于监测单色光气相沉积过程中基板光强度的变化。 此外,还用于本公司的气相沉积设备,作为气相沉积部件制造商,在充满专业知识的膜厚监测设备中完成。
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2024-09-28 - 02
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