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更新时间：2025-03-01 
浏览次数：149专用于电子元件
高速检查
小型电子元件粗略泄漏测试系统
SMD 晶体器件越来越小。 LZ-3000 系列是为满足密封 SMD 晶体器件和其他小型电子元件的粗略泄漏检测的高速处理要求而开发的自动泄漏检测系统。 我们提供很好的系统来改进质量控制系统，以提高客户的生产效率。
| 压力范围 | −100 kPa ~ 500 kPa |
|---|---|
| 最小可检测泄漏量 | 1.17 × 10-6 帕米3/秒 |
| 电源电压 | 三相 380 V 或三相 200 V，50/60 Hz，1.5 kW |
| 环境温度 | 工作温度：5 ~ 40°C |
| 外形尺寸 | W1250 × D850 × H1450（Max1890） |
每分钟 60 件的高速工件加工
使用“两部分分度法"的加工能力高达 60 件的系统，
可实现工件的全自动运输和对中检查、质量判断或故障判断以及工件的分拣和收集。
可进行 2.0 mm × 1.6 mm 尺寸的检查。
我们新开发的超微量检测差压空气泄漏测试仪可进行 2.0 mm × 1.6 mm 的超小尺寸粗略泄漏检测
选择
兼容多种类型的类似工件
工件供出料（在线通信/职业杂志通信）
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