产品分类

PRODUCT CATEGORY

新闻中心/ NEWS CENTER

我的位置:首页  >  新闻中心  >  上新 GX-1003A精密电子天平 多场景科研检测

上新 GX-1003A精密电子天平 多场景科研检测

更新时间:2026-07-14      浏览次数:11

# 2026年新品发布会#

日期:2026年7月14日

时间:8:30-18:30

近期我司新推出升级了

AND爱安德 GX-1003A 精密电子天平

AND爱安德 GX-1003A 精密电子天平

针对中小型实验室、院校教学、企业常规质检的精密称量需求,AND爱安德GX-1003A精密电子天平全新发布。机型定位通用精密称量设备,适配粉末、颗粒、小型块状样品的精准称重作业,可满足常规理化实验、原料筛查、成品抽检等工作的计量标准。
在批量检测场景中,GX-1003A表现稳定,连续多次称量数据偏差小,能够有效提升批量样品筛查的工作效率。设备具备稳定的温度补偿能力,可适配室内温湿度小幅波动环境,自动修正环境变化带来的数值偏移,维持稳定的称量精度。
设备整体布局规整,台面摆放不占空间,可适配标准化实验室工位、简易检测操作台等多种摆放环境。功能配置贴合实际使用需求,无冗余复杂操作,日常维护简单,长期运行状态稳定,适合各类基础科研与工业常规质检场景长期使用。


电话:TEL

86-010-67868591

地址:ADDRESS

北京市朝阳区东四环中路41号嘉泰国际大厦B座1803室

扫码关注我们