新品｜Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 二维双折射测量仪 显微低相位差

# 2026年新品发布会#

日期：2026年9月3日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

新品｜Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 二维双折射测量仪 紧凑型显微低相位差应力检测设备

新品｜Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 二维双折射测量仪 紧凑型显微低相位差应力检测设备

Photonic‑Lattice PA‑micro‑S 二维双折射测量仪全新发布，PA‑micro 紧凑型版本，保留 0‑130nm 低相位差高精度显微检测能力，机身精简，面向空间有限的实验室工位，完成微小精密光学元件微区应力双折射检测，【北崎】日本原厂一手渠道，提供整机供货与选型技术支持株式会社フ...。

搭载 520nm 单波长光子晶体偏振传感系统，无机械旋转偏振组件，降低设备维护需求。显微观测光路实现微米级视场，针对小型镜片、微型光学组件、半导体微小透光零件开展微区二维应力扫描。PA‑View 软件输出微区应力云图、剖面曲线、数据，捕捉模压、镀膜、激光加工带来的微弱残余应力，输出相位差、光轴方位，可换算应力数值，为微光学元件工艺迭代提供量化检测依据。

适配微光学器件加工、半导体光学零部件、精密镜头研发、高校科研实验室。紧凑型机身降低安放空间要求，适合桌面有限实验工位。针对低相位差微小工件实现纳米级相位差分辨，识别容易忽略的微区应力缺陷，避免产品光学畸变、性能劣化。无损非接触检测，样品无需复杂制样，适配研发试样以及小批量样品筛查。

多用于微型光学件模压工艺调试，退火工艺效果验证，镀膜应力评估，激光微加工边缘残余应力检测。【北崎】日本原厂一手渠道，区分 PA‑micro 与 PA‑micro‑S 结构差异，确认显微视野、相位差量程，结合工件条件选型，提供原厂规格资料以及整机采购对接。

北崎国际主营全品类日本和欧美工业进口设备，核心代理品牌包含：SEN 日森、CCS 晰写速、日本 MTL、NPM 日脉、SERIC 索莱克、SONIC 索尼克、SANKO 三高、NEWKON 新光、SIBATA 柴田、SUGIYAMA 杉山电机、TORAY 东丽、EBARA 荏原、MATSUO 松尾、NIKKATO 日陶、HEIDON 新东科学、JIKCO 吉高、OTSUKA 大塚电子、ITOH 伊藤、EYE 岩崎、REVOX 莱宝克斯、TOKI 东机产业、HAYASHI 林时计、OHKURA 大仓、ULVAC 爱发科、ANALYZER 第一热研、NFK 南国工业株式会社、kakuhunter 写真化学、WATSON 沃森、RIYYO 理阳、ESSGES 宜格斯、ATAGO 爱拓、PFERD 马圈、TEMTOP 乐控、TSUBAKI 椿本、SAKAGUCHI 坂口电热、MIYUKI 美幸辉、THOMAS 托马斯。全系原厂正品、渠道稳定、现货配套、技术售后一站式服务。