新品 SANKO 三高 SWT-NEO-BT 双型薄膜厚度计包装膜涂层无损测厚检测

更新时间：2026-09-17

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年9月17日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

新品 SANKO 三高 SWT-NEO-BT 双型薄膜厚度计包装膜涂层无损测厚检测

新品 SANKO 三高 SWT-NEO-SANKO 三高 SWT-NEO-BT 双型薄膜厚度计，作为薄膜行业常用的无损检测仪器，兼顾薄膜厚度快速检测与稳定数据输出，适配多种柔性薄膜试样检测场景。设备采用双型检测设计，可根据样品材质切换检测模式，无需复杂前处理，试样放置后即可完成厚度读取，操作门槛低，现场产线、质检实验室均可使用。

仪器机身结构紧凑，便于移动，支持连续多次测量，自动记录多组检测数据，减少人工读数带来的误差。适用于塑料薄膜、复合膜、涂覆薄膜、包装卷材等材料的厚度抽检，广泛应用于包装材料、锂电隔膜、光学膜、高分子新材料等行业质检环节。设备抗环境干扰能力强，车间常规环境下依旧可以保持稳定检测精度，满足企业日常来料检验、成品抽检、工艺调试等工作。

北崎国际作为 SANKO 三高代理，可提供原厂技术支持，支持样品测试服务，设备货源稳定，配套原厂操作手册与售后技术指导，帮助企业快速完成薄膜厚度检测方案落地。BT 双型薄膜厚度计包装膜涂层无损测厚实验室工业检测设备

新品 SANKO 三高 SWT-NEO-BT 双型薄膜厚度计 包装膜涂层无损测厚检测

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