新品 SANKO 三高 SWT-NEOII 双型薄膜厚度计新材料薄膜高精度无损测厚

更新时间：2026-09-17

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年9月17日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

新品 SANKO 三高 SWT-NEOII 双型薄膜厚度计新材料薄膜高精度无损测厚检测仪器

SANKO 三高 SWT-NEOII 双型薄膜厚度计，在原有基础机型上优化检测稳定性，针对高精度薄膜检测场景升级，双型检测结构，适配轻薄型功能性薄膜厚度测量。仪器测量精度更高，数据输出直观，自带数据存储功能，可保存多批次试样检测记录，方便质检报告整理。

设备适合实验室研发检测以及产线成品抽检，适配光学薄膜、电池隔膜、保护膜、多层复合膜等样品，检测过程不会损伤试样，样品检测后可继续留存做其他理化测试。

仪器环境适应性好，温湿度小幅波动时，测量结果波动小，适合新材料研发实验室持续开展配方与工艺验证。北崎国际供应 SANKO 三高 SWT-NEOII 薄膜厚度计，北崎一手货源，原厂技术支持，支持客户样品测试，协助客户评估设备是否匹配自身检测需求。

新品 SANKO 三高 SWT-NEOII 双型薄膜厚度计 新材料薄膜高精度无损测厚