新品 SANKO 三高 SWT-NEO-FN 双型薄膜厚度计薄型功能性薄膜无损厚度检测

更新时间：2026-09-17

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年9月5日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

新品 SANKO 三高 SWT-NEO-FN 双型薄膜厚度计薄型功能性薄膜无损厚度检测仪器

SANKO 三高 SWT-NEO-FN 双型薄膜厚度计，针对超薄功能性薄膜检测需求设计，双型检测结构，针对低厚度薄膜优化探头，能够稳定捕捉超薄薄膜厚度信号。检测全程非破坏性，不会划伤薄膜表面，适合高价值功能性薄膜试样检测。多用于光学功能膜、离型膜、防护薄膜、精细涂层薄膜等材料检测，在新材料研发、精密膜材生产质检场景使用。设备体积小巧，既可以放置在实验室台面，也可按需移动到产线工位做现场抽检，数据读取快速，方便研发人员快速对比不同工艺样品厚度差异。北崎国际为 SANKO 三高代理商，提供原厂技术支持，支持样品测试，可提供设备选型咨询，匹配企业薄膜检测项目需求。

新品 SANKO 三高 SWT-NEO-FN 双型薄膜厚度计 薄型功能性薄膜无损厚度检测

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