新品发布｜KETT LH-373 膜厚计配套 LHP-J 探头涂层检测

更新时间：2026-10-10

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年10月10日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

新品发布｜KETT LH-373 膜厚计配套 LHP-J 探头涂层检测

KETT LH-373 膜厚计搭配 LHP-J 探头，用于非磁性金属基材表面涂层厚度检测，广泛用于阳极氧化膜、喷漆、电镀膜层质检，覆盖铝件加工、铝合金零部件、汽车铝配件表面处理工艺。LHP-J 探头作为核心传感部件，接触工件表面快速获取膜厚数据，无损检测，不会破坏工件表面涂层，适合成品全检与制程抽检。

铝合金阳极氧化、喷涂工艺里，膜厚是关键质控指标，膜层厚度不均会影响防腐、外观性能。LHP-J 探头灵敏度稳定，曲面、小面积工件也可完成测量，适配复杂外形零部件检测。探头可单独更换，当探头磨损后，仅更换探头即可继续使用 LH-373 主机，降低设备整体投入成本。探头操作简单，手持轻触工件即可读数，车间质检人员快速上手，提升批量检测效率。

北崎优势供应 KETT LH-373 膜厚计配套 LHP-J 探头，配套原厂技术支持，协助探头标定、样品测试，讲解曲面工件测量技巧。现货供应，适合表面处理工厂、铝合金零部件质检部门采购。可提供探头保养方案，减少探头磨损，稳定涂层膜厚检测数据，把控表面处理工艺品质。

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新品发布｜KETT LH-373 膜厚计配套 LHP-J 探头 涂层检测

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