新品 SANKO三高 SWT-NEOⅡ 双型薄膜厚度计

更新时间：2026-06-06

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年6月6日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SWT-NEOⅡ 双型薄膜厚度计

SANKO三高 SWT-NEOⅡ 双型薄膜厚度计是一款高精度、无损测量的便携式仪器，

专为涂层、镀层及各类薄膜厚度管理而设计。

核心特点：

双型技术：融合电磁感应（测磁性基体上的非磁性涂层）与涡流法（测非磁性金属上的绝缘涂层），一机两用，适用性广。

人性化设计：大型背光LCD清晰显示，探头V形切口便于稳定定位在曲面（如圆棒）上；具备单次/连续扫描模式。

耐用与规范：耐磨探头，符合ISO、JIS、DIN等国际标准；防尘防滴机身，适应工厂环境。

高精度测量：分辨率达0.1μm，测量范围通常为0–2000μm，满足从薄至厚膜的精确要求。

数据功能：内置统计处理（平均值、标准差等），

支持上下限设定与判定；可存储多达约1000个数据点。

应用场景：电镀、涂装、阳极氧化膜、塑料薄膜等厚度检测，广泛用于汽车、电子、金属加工及质检行业。

SWT-NEOⅡ以双型合一、操作简便和可靠数据成为现场膜厚管理的理想选择。