新品 SANKO三高 SWT-NEOIII. 双型薄膜厚度计

更新时间：2026-06-06

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# 2026年新品发布会#

日期：2026年6月6日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SWT-NEOIII. 双型薄膜厚度计

实现从0至数毫米范围的薄膜厚度测量。

其典型测量精度为±1μm 或读数的±2%，分辨率可达0.1μm，满足JIS/ISO国际标准。

设备配备大型LCD背光屏、统计处理功能及数据输出接口，支持单次/连续测量与上下限报警。

SANKO三高 SWT-NEOIII 双型薄膜厚度计是一款高精度涂镀层检测仪器，

专为测量磁性金属基体上的非磁性涂镀层（如绝缘涂层、树脂、氟树脂等）而设计，同时也可用于非磁性金属基体上的绝缘涂层测量。

该型号采用双型设计，集成电磁式和涡流式两种原理，用户可根据基体材质自动或手动切换，

探头采用V型槽设计，便于圆柱/曲面定位。整机轻巧耐用，适用于电镀、涂装、线路板、汽车、薄膜制造等领域，确保在实验室或现场环境下均能快速、非破坏性地获得稳定、可靠的厚度数据。